當前位置:網站首頁(yè) > 産(chǎn)品中(zhōng)心 > 半導體(tǐ)測試設備
型号
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YP1731 設備名(míng)稱晶圓AOI
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類型
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晶圓髒物(wù)檢測
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外形尺寸
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800*950*1400mm (WxDxH)
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晶圓台面高 度
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850mm
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适應産(chǎn)品規
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格 8寸 (小(xiǎo)尺寸需改承載台部分(fēn))
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定位精(jīng)度
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±0.03mm (X,Y)
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定位精(jīng)度
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±0.05mm (Z)
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重複精(jīng)度
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±0.02mm (X,Y)
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視覺系統
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500萬像素黑白CCD, 遠(yuǎn)心鏡頭, 點光源
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最小(xiǎo)缺陷尺
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寸 3um
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工(gōng)控系統
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自主研發動作(zuò)軟件
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工(gōng)廠要求
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電(diàn)壓: 220V, 50Hz 真空: 80-99Kpa
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設備功率
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900W
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